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了解一下X熒光光譜儀兩種常見(jiàn)的分類吧

更新時(shí)間:2023-02-02      點(diǎn)擊次數(shù):1323
   隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測(cè)器以后,對(duì)X-熒光進(jìn)行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF),用X射線管產(chǎn)生原級(jí)X射線照射到樣品上,所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進(jìn)入半導(dǎo)體探測(cè)器,便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。

  接下來(lái)讓我們一起來(lái)了解一下X熒光光譜儀的兩種分類介紹吧。

  X熒光光譜儀是一種較新型可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下,被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線(即X-熒光)。能量色散(ED-XRF)和波長(zhǎng)色散(WD-XRF)是從不同的角度來(lái)觀察描述X射線所采用的兩個(gè)物理量。

  1、能量色散熒光光譜儀

  能量色散法是將X射線激發(fā)被測(cè)所有元素的熒光簡(jiǎn)單過(guò)濾后,全部進(jìn)入到檢測(cè)器中,利用儀器和軟件來(lái)分出其中的光譜。

  如測(cè)的為元素周期表中相鄰的兩個(gè)元素,會(huì)因光譜重疊而產(chǎn)生測(cè)量誤差。能量色散型儀器最大的優(yōu)點(diǎn)是不破壞被測(cè)的材料或產(chǎn)品,也不需要專業(yè)人員操作,缺點(diǎn)是對(duì)鉻和溴是總量測(cè)定(一般不影響使用,因?yàn)楹芏嗲闆r可以判定,如測(cè)鉻總量超標(biāo),常可知是不是六價(jià)鉻超標(biāo),特別是溴,如被作為阻燃劑加入,不管是那種溴,總量超標(biāo)就不合格)。

  2、波長(zhǎng)色散熒光光譜儀

  波長(zhǎng)法是因其激發(fā)出的熒光足夠強(qiáng),進(jìn)到儀器中用來(lái)分析的光譜是單一元素(“過(guò)濾”了不需測(cè)的元素),不含其它元素的光譜,所以測(cè)量數(shù)據(jù)很準(zhǔn)確。這種儀器的靈敏度比能量色散型高一個(gè)數(shù)量級(jí),也就是說(shuō),所測(cè)的數(shù)據(jù)并不存在“灰色地域”,不存在測(cè)定后還需拿到檢測(cè)機(jī)構(gòu)復(fù)檢。缺點(diǎn)是,波長(zhǎng)法需將被測(cè)材料粉碎壓制成樣本后測(cè)才準(zhǔn)確。所以,用在材料廠適合。如不制成樣本(非破壞),會(huì)因材料表面形狀不同而產(chǎn)生不同誤差。儀器操作也不需要專業(yè)人員。